Ende 2021 wurde mit dem AOI System WAFERinspect AOI das insgesamt 100. Messsystem in der 12-jährigen Unternehmensgeschichte der Confovis GmbH an einen Kunden aus dem Halbleiterbereich ausgeliefert. M...Read More
Mit den Messsystem WAFERinspect AOI erweitert Confovis seine WAFERinspect Produktreihe um ein AOI Tool, das Defect Inspection, Defect Review sowie 2D- und 3D-Messungen in einem einzigen System zusamme...Read More
Durch die Nutzung dieser Website erklären Sie sich damit einverstanden, dass unsere Dienste Cookies verwenden.OKWeiterlesen
